L'analisi XRF, o analisi di fluorescenza a raggi X, è una tecnica potente utilizzata per misurare lo spessore dei materiali.
La gamma di analisi XRF va da uno spessore minimo rilevabile di circa 1 nm a un massimo di circa 50 µm.
Al di sotto di 1 nm, i raggi X caratteristici sono oscurati dal rumore.
Oltre i 50 µm, lo spessore si satura, impedendo ai raggi X di raggiungere il rivelatore.
Qual è l'intervallo di analisi XRF? (da 1 nm a 50 µm)
1. Spessore minimo di rilevamento (1 nm)
A spessori inferiori a 1 nm, i raggi X caratteristici emessi dal materiale in analisi non sono rilevabili.
Questo perché sono sommersi dal segnale di rumore.
Questa limitazione è dovuta alla sensibilità fondamentale della tecnologia XRF e al rumore di fondo insito nel processo di rilevamento.
2. Spessore massimo di rilevamento (50 µm)
Quando lo spessore del materiale supera i 50 µm, i raggi X emessi dagli strati interni del materiale non riescono a penetrare negli strati esterni per raggiungere il rivelatore.
Ciò determina un effetto di saturazione, per cui aumentando lo spessore oltre questo punto non si ottengono ulteriori raggi X rilevabili.
Questo perché i raggi X vengono assorbiti o dispersi dal materiale sovrastante, impedendo loro di raggiungere il rivelatore.
Pertanto, non è possibile misurare ulteriori variazioni di spessore.
Questi limiti definiscono l'intervallo pratico dell'analisi XRF in termini di spessore del materiale.
Garantiscono l'efficacia della tecnologia all'interno di questi limiti per ottenere misure precise e affidabili.
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