I metodi XRF (X-ray Fluorescence) prevedono l'uso di spettrometri a fluorescenza di raggi X per analizzare la composizione elementare dei materiali. Ciò si ottiene eccitando gli atomi all'interno del materiale con raggi X primari, che poi emettono raggi X secondari (fluorescenza) caratteristici degli elementi presenti. L'analisi può essere qualitativa, identificando gli elementi, o quantitativa, determinandone le concentrazioni. I metodi XRF sono classificati in dispersione di lunghezza d'onda e dispersione di energia in base al modo in cui i raggi X emessi vengono dispersi e rilevati.
1. Dispersione di lunghezza d'onda XRF (WDXRF):
Questo metodo utilizza uno spettrometro a cristallo per separare i raggi X fluorescenti in base alla lunghezza d'onda. Ogni elemento emette raggi X a lunghezze d'onda specifiche, che vengono poi rilevate e analizzate per identificare gli elementi presenti nel campione. La WDXRF offre un'elevata risoluzione e sensibilità, rendendola adatta ad analisi elementari dettagliate.2. EDXRF (Energy Dispersion XRF):
In questo metodo si utilizza un rivelatore a semiconduttore per misurare direttamente l'energia dei raggi X fluorescenti. Ciò consente la rilevazione simultanea di più elementi senza la necessità di parti mobili, migliorando la velocità e la semplicità dell'analisi. L'EDXRF è più portatile e versatile, il che lo rende ideale per le applicazioni sul campo e lo screening rapido.
3. Analizzatori XRF portatili:
Questi dispositivi sono portatili e offrono mobilità e autonomia, consentendo analisi in loco e in tempo reale senza la necessità di allestire un laboratorio. Sono particolarmente utili nei settori in cui i risultati immediati sono fondamentali, come il riciclaggio dei metalli, il monitoraggio ambientale e il controllo di qualità nella produzione.4. I progressi tecnologici dell'XRF:
I recenti progressi includono lo sviluppo di cristalli a film multistrato, che hanno ampliato la gamma di rilevamento per includere elementi leggeri come berillio, boro, carbonio, azoto e ossigeno. Anche i miglioramenti nella potenza del tubo a raggi X, nella collimazione e nella tecnologia dei rivelatori hanno migliorato la sensibilità e i limiti di rilevamento dei moderni spettrometri XRF.
5. Preparazione del campione:
