L'analisi XRF è generalmente considerata affidabile e precisa, e spesso raggiunge risultati paragonabili ai metodi di analisi a fuoco. Questa precisione aiuta a prevenire le perdite dovute all'acquisizione di materiali sotto-incisi o contraffatti. L'accuratezza dell'analisi XRF è influenzata da diversi fattori, tra cui la sensibilità e la stabilità degli strumenti, le tecniche di preparazione del campione e le caratteristiche del campione stesso.
Sensibilità e stabilità dello strumento:
I moderni strumenti XRF hanno raggiunto un livello tale che la loro sensibilità e stabilità non sono più le principali fonti di errore. Questi strumenti, dotati di algoritmi matematici all'avanguardia e di elettronica avanzata, sono in grado di fornire risultati rapidi e accurati in pochi secondi. Ciò li rende ideali per varie applicazioni, tra cui il controllo di qualità negli impianti di lavorazione dei metalli e l'identificazione rapida dei gradi di lega.Tecniche di preparazione dei campioni:
Nonostante i progressi della tecnologia degli strumenti, l'accuratezza dell'analisi XRF può ancora essere influenzata in modo significativo dalla qualità della preparazione del campione. Una preparazione errata del campione può portare a risultati imprecisi. Il processo di preparazione di un campione per l'analisi XRF può talvolta essere più laborioso e costoso dell'analisi stessa. Le considerazioni principali sulla preparazione del campione includono la garanzia che il campione sia rappresentativo del materiale da analizzare e che sia preparato in modo da non alterare la sua composizione elementare.
Caratteristiche del campione:
L'analisi XRF è particolarmente sensibile alle caratteristiche del campione da analizzare. Ad esempio, l'emissione di raggi X raggiunge picchi a lunghezze d'onda specifiche, corrispondenti a transizioni di elettroni all'interno degli atomi del campione. Queste emissioni sono sovrapposte a uno sfondo continuo di raggi X diffusi dagli elettroni esterni. La profondità a cui vengono rilevate queste emissioni (in genere tra 1-1000 µm sotto la superficie) può variare a seconda del peso atomico degli elementi del campione. Gli elementi più leggeri sono più difficili da rilevare rispetto a quelli più pesanti.
Natura non distruttiva:
