Sì, il SEM richiede il rivestimento sputter per alcuni tipi di campioni, in particolare quelli non conduttivi o scarsamente conduttivi. Il rivestimento sputter consiste nell'applicazione di uno strato sottilissimo di metallo elettricamente conduttivo sul campione per prevenire la carica e migliorare la qualità delle immagini al SEM.
Spiegazione:
-
Prevenzione della carica: I campioni non conduttivi o scarsamente conduttivi possono accumulare campi elettrici statici quando sono sottoposti al fascio di elettroni di un microscopio elettronico a scansione (SEM). Questo accumulo, noto come carica, può distorcere l'immagine e interferire con il funzionamento del SEM. Applicando un rivestimento conduttivo mediante sputter coating, la carica viene dissipata, evitando distorsioni e garantendo immagini chiare.
-
Miglioramento della qualità dell'immagine: Il rivestimento sputter non solo impedisce la carica, ma aumenta anche l'emissione di elettroni secondari dalla superficie del campione. Questo aumento dell'emissione di elettroni secondari migliora il rapporto segnale/rumore, fondamentale per ottenere immagini dettagliate e di alta qualità al SEM. I materiali di rivestimento tipicamente utilizzati, come l'oro, l'oro/palladio, il platino, l'argento, il cromo o l'iridio, sono scelti per la loro conduttività e per la capacità di formare film stabili e sottili che non oscurano i dettagli del campione.
-
Applicabilità a campioni difficili: Alcuni campioni, in particolare quelli sensibili ai raggi o non conduttivi, traggono notevoli vantaggi dal rivestimento sputter. Questi campioni potrebbero altrimenti risultare difficili da fotografare efficacemente in un SEM senza causare danni o produrre immagini di scarsa qualità a causa della carica o del basso segnale.
Conclusioni:
Il rivestimento sputter è una tecnica di preparazione del campione necessaria per il SEM quando si tratta di materiali non conduttivi o scarsamente conduttivi. Garantisce che i campioni non si carichino sotto il fascio di elettroni, mantenendo così l'integrità delle immagini e consentendo osservazioni accurate e dettagliate a livello di nanoscala.
