L'analisi XRF (Fluorescenza a raggi X) penetra tipicamente nel campione a profondità comprese tra 1-1000 µm.
La profondità di penetrazione è influenzata dal peso atomico degli elementi presenti nel campione.
Gli elementi più leggeri sono più difficili da rilevare a livelli più profondi rispetto a quelli più pesanti.
Questo perché i raggi X caratteristici emessi durante l'analisi sono generalmente dovuti agli atomi di superficie a queste profondità.
La capacità di rilevare gli elementi a diverse profondità è fondamentale per un'analisi accurata.
Essa influisce sul segnale ricevuto dallo spettrometro XRF.
Gli elementi a più alta energia, in genere quelli con numero atomico più elevato, hanno profondità di fuga maggiori in un campione.
Ciò significa che possono essere rilevati da strati più profondi rispetto agli elementi a più bassa energia.
Questa sensibilità alla profondità è un fattore chiave nella preparazione e nell'interpretazione dei risultati delle analisi XRF.
4 Approfondimenti chiave
1. Gamma di profondità di penetrazione
L'analisi XRF penetra tipicamente nel campione a profondità comprese tra 1-1000 µm.
2. Influenza del peso atomico
La profondità di penetrazione è influenzata dal peso atomico degli elementi presenti nel campione.
3. Rilevamento degli elementi
Gli elementi più leggeri sono più difficili da rilevare a livelli più profondi rispetto a quelli più pesanti.
4. Sensibilità alla profondità
Gli elementi a più alta energia hanno profondità di fuga maggiori, il che significa che possono essere rilevati da strati più profondi.
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