Quando si tratta di analisi elementare, la fluorescenza a raggi X (XRF) è una scelta popolare.
Tuttavia, esistono tecniche alternative che possono fornire informazioni preziose.
Queste alternative includono la spettrometria a emissione ottica (OES) e la spettrometria a scomposizione indotta da laser (LIBS).
Sia l'OES che la LIBS possono analizzare i pezzi senza una preparazione approfondita del campione.
Ma presentano una serie di limitazioni rispetto alla XRF.
Qual è l'alternativa alla XRF? 3 tecniche chiave spiegate
1. Spettrometria di emissione ottica (OES)
L'OES utilizza la luce emessa dagli atomi eccitati per determinare la composizione elementare di un materiale.
È particolarmente utile per rilevare elementi con basso numero atomico.
L'OES può fornire un'analisi quantitativa accurata.
Tuttavia, l'OES richiede una scintilla per eccitare gli atomi.
Questa scintilla può causare danni fisici al campione.
Di conseguenza, l'OES è meno adatto ai test non distruttivi.
2. Spettrometria a ripartizione indotta da laser (LIBS)
La LIBS utilizza un impulso laser ad alta potenza per creare un microplasma sulla superficie del campione.
Lo spettro della luce emessa da questo microplasma viene poi analizzato per determinare la composizione elementare.
La LIBS è vantaggiosa per la sua capacità di analizzare solidi, liquidi e gas senza una significativa preparazione del campione.
Tuttavia, come l'OES, il LIBS può lasciare segni sul campione a causa dell'impatto del laser ad alta energia.
3. Fluorescenza a raggi X (XRF)
L'XRF rimane un metodo preferito per molte applicazioni.
Ciò è dovuto alla sua natura non distruttiva e alle sue ampie capacità analitiche.
La XRF può analizzare i campioni senza alterarne le proprietà fisiche.
Questo lo rende ideale per i settori in cui è fondamentale preservare l'integrità dei materiali.
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