La tecnologia XRF (Fluorescenza a raggi X) è in grado di misurare rivestimenti in metallo o in lega con spessori che vanno da circa 0,001μm a 50μm.
Questa tecnologia è in grado di misurare con precisione rivestimenti singoli e multistrato su vari substrati, tra cui metalli, polimeri, ceramiche e vetro.
Le misure possono essere effettuate con strumenti XRF da banco o portatili.
La scelta tra strumenti da banco e portatili dipende dalle dimensioni dei pezzi e dai requisiti specifici dell'applicazione.
4 punti chiave spiegati: Quanto è spessa la placcatura XRF?
1. Intervallo di spessore per la misurazione XRF
La tecnologia XRF può misurare rivestimenti con spessori che vanno da 0,001μm a 50μm.
Questa gamma comprende sia rivestimenti molto sottili sia rivestimenti più spessi, rendendo la XRF versatile per varie applicazioni.
2. Tipi di strumenti XRF
Spettrometri XRF da banco: Progettati per misurare lo spessore e la composizione del rivestimento su pezzi piccoli o su aree specifiche di pezzi grandi.
Possono essere configurati con stadi di campionamento motorizzati ad alta precisione, illuminazione regolabile e telecamere con zoom per immagini chiare.
Strumenti XRF portatili: Più portatili e adatti a misurare pezzi di grandi dimensioni che non possono essere inseriti in una camera di campionamento da banco.
Sono ideali per le ispezioni in servizio e il monitoraggio della catena di fornitura.
3. Tecnologie di apertura
Collimatori e ottiche capillari: Vengono utilizzati negli spettrometri XRF da banco per limitare la dimensione del fascio di raggi X, che influisce sull'accuratezza e sulla precisione delle misure.
La scelta tra collimatori e ottiche capillari dipende dalle dimensioni del pezzo e dallo spessore del rivestimento.
4. Impatto dello spessore del rivestimento sulla misurazione
Per i rivestimenti più sottili, è possibile misurare con precisione sia il materiale galvanico che il substrato.
Tuttavia, all'aumentare dello spessore del rivestimento, l'intensità del substrato diminuisce a causa dell'attenuazione dei raggi X da parte del rivestimento.
La rugosità della superficie può influire sull'accuratezza delle misure XRF.
Gli strumenti XRF da banco con stadi di campionamento motorizzati possono scansionare un'area per fornire un valore medio di spessore, particolarmente utile per i campioni con superfici irregolari.
Standard di calibrazione: A seconda dell'applicazione, si utilizzano sia standard a film sottile che standard monolitici.
Gli standard a film sottile offrono una certa flessibilità, mentre quelli monolitici sono più robusti e assomigliano molto ai pezzi reali.
Certificazione dello strumento: Gli strumenti XRF devono essere calibrati annualmente per garantire misure accurate e affidabili.
Ciò comporta l'ispezione dei componenti analitici, dell'elettronica e delle parti meccaniche.
Messa a fuoco del campione: Una corretta messa a fuoco è fondamentale per mantenere una distanza fissa tra il tubo a raggi X, il campione e il rivelatore.
Una messa a fuoco errata può portare a misurazioni imprecise.
Posizionamento del pezzo: L'orientamento del pezzo può influenzare i risultati della misurazione.
Un allineamento corretto garantisce una raccolta accurata dei dati.
Per l'analisi XRF si preferisce una superficie del campione più ampia, in genere 32 mm o 40 mm.
Ciò garantisce una migliore copertura e risultati più accurati.
Comprendendo questi punti chiave, l'acquirente di un'apparecchiatura da laboratorio può prendere decisioni informate sulla scelta dello strumento XRF appropriato per le proprie esigenze specifiche, garantendo misurazioni accurate e affidabili dello spessore del rivestimento.
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