La XRF, o fluorescenza a raggi X, è una tecnica utilizzata per misurare la composizione elementare dei materiali. Lo fa analizzando i raggi X fluorescenti emessi da un campione quando viene bombardato con raggi X ad alta energia. Questo metodo non distruttivo identifica e quantifica gli elementi presenti nel campione in base alla firma spettrale unica di ciascun elemento.
5 punti chiave spiegati
1. Principio della XRF
Quando un campione viene esposto ai raggi X, l'energia di questi ultimi può eccitare gli elettroni interni degli atomi del campione. Quando questi elettroni eccitati ricadono nei loro livelli energetici originali, emettono raggi X di energie specifiche, caratteristiche degli elementi presenti nel campione. Questa emissione di raggi X è nota come fluorescenza a raggi X.
2. Rilevamento e analisi
I raggi X fluorescenti emessi vengono rilevati da uno spettrometro XRF, composto da una sorgente di raggi X e da un rilevatore. Il rilevatore misura l'energia e l'intensità dei raggi X fluorescenti, che vengono poi analizzati per determinare la composizione elementare del campione. Lo spettro generato dal rivelatore mostra picchi alle energie corrispondenti agli elementi presenti nel campione.
3. Preparazione del campione
La XRF è un metodo analitico relativamente semplice che non richiede una preparazione approfondita del campione. I campioni possono essere solidi, in polvere o liquidi. Per i campioni solidi è necessaria una superficie piana e pulita per la misurazione. I campioni in polvere vengono generalmente frantumati e omogeneizzati, mentre i campioni liquidi possono richiedere una manipolazione specifica per evitare la contaminazione o l'alterazione del campione durante l'analisi.
4. Applicazioni e vantaggi
L'XRF è ampiamente utilizzato in vari campi come l'analisi dei metalli, il controllo di qualità, il riciclaggio dei rottami metallici e l'analisi dei metalli preziosi. Offre risultati rapidi e accurati con una preparazione minima del campione e non è distruttiva, il che significa che il campione rimane intatto dopo l'analisi.
5. Gamma di elementi
La tecnica XRF può analizzare elementi che vanno dal sodio (Na) all'uranio (U), con livelli di rilevamento che variano a seconda degli orbitali specifici disponibili negli atomi per le transizioni degli elettroni.
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