Sì, il carbonio può essere spruzzato su un campione.
Tuttavia, i film risultanti hanno spesso un'alta percentuale di idrogeno.
Ciò rende lo sputtering di carbonio indesiderabile per le operazioni al SEM.
L'elevato contenuto di idrogeno può interferire con la chiarezza e l'accuratezza delle immagini nella microscopia elettronica.
5 punti chiave da considerare
1. Che cos'è lo sputtering al carbonio?
Lo sputtering di carbonio è un processo in cui ioni energetici o atomi neutri colpiscono la superficie di un bersaglio di carbonio.
Ciò provoca l'espulsione di alcuni atomi di carbonio a causa dell'energia trasferita.
Questi atomi espulsi vengono poi depositati sul campione, formando un film sottile.
2. Il ruolo della tensione nello sputtering
Il processo è guidato da una tensione applicata.
Questa tensione accelera gli elettroni verso un anodo positivo.
Inoltre, attira gli ioni con carica positiva verso il bersaglio di carbonio con polarizzazione negativa.
Ciò dà inizio al processo di sputtering.
3. Problemi di contenuto di idrogeno
Nonostante la sua fattibilità, l'uso dello sputtering al carbonio per le applicazioni SEM è limitato.
Ciò è dovuto alle elevate concentrazioni di idrogeno nei film sputterati.
L'idrogeno può interagire con il fascio di elettroni in modo da distorcere l'immagine o interferire con l'analisi del campione.
4. Metodi alternativi
Un metodo alternativo per ottenere rivestimenti di carbonio di alta qualità per applicazioni SEM e TEM è l'evaporazione termica del carbonio sotto vuoto.
Questo metodo evita i problemi associati all'elevato contenuto di idrogeno.
Può essere eseguito utilizzando una fibra di carbonio o un'asta di carbonio; quest'ultima tecnica è nota come metodo Brandley.
5. Applicazione pratica al SEM
In sintesi, sebbene il carbonio possa essere tecnicamente spruzzato su un campione, la sua applicazione pratica al SEM è limitata a causa dell'elevato contenuto di idrogeno nei film spruzzati.
Altri metodi, come l'evaporazione termica, sono preferibili per ottenere rivestimenti di carbonio di alta qualità nella microscopia elettronica.
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