Scopri i precursori CVD: composti volatili che forniscono atomi per formare film sottili. Scopri il loro ruolo, le proprietà ideali e come scegliere quello giusto.
Scopri le tecniche chiave—TEM, SEM, Raman, TGA, XPS—per caratterizzare la struttura, la purezza e la chimica superficiale dei CNT per la tua applicazione.
Scopri perché la GFAAS offre limiti di rilevamento 100-1000 volte inferiori rispetto alla AAS a fiamma, utilizzando un volume minimo di campione per un'analisi precisa degli elementi in tracce.
Scopri i principi fondamentali della GFAAS: atomizzazione controllata in un tubo di grafite e assorbimento luminoso preciso per una sensibilità a livello di parti per miliardo.
La dimensione dello spot XRF varia da 20 mm a 50 µm. Scopri come selezionare la dimensione corretta per l'analisi di massa, superficiale o micro-analisi dei tuoi materiali.
La capacità termica dell'allumina è di 0,880 J/g-°C. Scopri come la sua sinergia con l'elevata conduttività termica e la bassa espansione consente una resistenza superiore agli shock termici.
Scopri i fattori chiave che influenzano la vita della fibra ceramica, dalla temperatura all'attacco chimico, e scopri come estendere la sua vita utile nella tua applicazione.
Scopri perché l'ICP-MS offre la massima sensibilità per l'analisi elementare, rilevando livelli di parti per trilione, e come si confronta con GFAAS, SIMS e NAA.
Esplora i principali svantaggi dell'analisi XRF, inclusi i limiti di rilevamento degli elementi leggeri, gli effetti di matrice e le sfide nella preparazione del campione.
Scopri perché la XRF non può rilevare elementi leggeri come H, He, Li, Be, B, C, N, O e F a causa della fisica fondamentale e dei problemi di assorbimento del segnale.
Scopri come l'XRF funga sia da strumento qualitativo che quantitativo, dall'identificazione rapida degli elementi alla misurazione precisa della concentrazione.
Scopri i 4 componenti essenziali di uno spettrometro IR: sorgente, interferometro, campione e rivelatore. Comprendi come funziona l'FTIR per un'analisi chimica accurata.
Scopri come funziona la spettroscopia FTIR per identificare materiali sconosciuti e confermare la composizione chimica attraverso modelli unici di assorbimento infrarosso.
L'FTIR legge le vibrazioni molecolari misurando l'assorbimento della luce infrarossa, fornendo un'impronta chimica unica per l'identificazione e l'analisi dei materiali.
Esplora le diverse applicazioni della spettroscopia FTIR per l'identificazione dei materiali, il controllo qualità e l'analisi in ambito farmaceutico, forense e altro ancora.
Scopri come la XRF forense analizza in modo non distruttivo i residui di sparo, il vetro, la vernice e il terreno per collegare i sospetti alle scene del crimine con analisi elementari rapide e in loco.
Scopri come l'XRF rileva gli elementi in tracce, i suoi limiti a livello di ppm e quando sceglierlo rispetto all'ICP-MS per l'analisi dei materiali. Comprendi i fattori chiave che influenzano il rilevamento.
Scopri come l'analisi XRF qualitativa identifica gli elementi in un campione utilizzando impronte digitali a raggi X uniche. Essenziale per la scienza dei materiali e il controllo qualità.
EDX vs XRF: Comprendi le differenze chiave in scala, sensibilità e applicazione. Scopri quale tecnica è migliore per l'analisi di massa o la microanalisi.
L'XRF offre un'analisi rapida e multi-elemento dei solidi, mentre l'AAS fornisce una misurazione mono-elemento ad alta sensibilità nei liquidi. Scopri quale sia il migliore per il tuo laboratorio.
La micro-XRF non ha una massa di campione richiesta. Scopri come la dimensione del punto, la qualità della superficie e la preparazione del campione definiscono il successo dell'analisi per una mappatura elementale accurata.
Esplora alternative al grafene come TMD, h-BN, fosforene e MXene. Trova il materiale 2D giusto per l'elettronica, l'accumulo di energia e altro ancora.
Scopri perché il silicio è il materiale semiconduttore principale. Conosci i suoi vantaggi rispetto a GaAs, GaN e SiC per le applicazioni di calcolo, RF e potenza.